FA/JA-M 密度天平采用电磁力平衡力式传感器和单片微处理器系统，是在FA/JA基础上开发的一款集精确、稳定、多功能和自动化于一体的电子天平，尽量满足实验室密度测量及质量分析要求。只需在天平上配上密度测量组件，可以精确测量固体密度,操作简单、直接、清晰明了。更新时间：2021-08-30型号：访问次数：1814
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